起因
我写好了协议层和应用层，但是我的同事也写了一个bootloader，但是他…所以，在我和他多次交流和协商下，他搞定了bootloader，但是出现问题了，就是adc不一样，他给的adc表格，不符合我实际读取的，所以就会出现偏差。
bug查找
我一开始以为是采样问题，看了周期，看了转换速度，看了分频，都是正常，代码cube一键生成，也是启动adc了，因为使用的F1的MCU，所以是不能修改分辨率的，统一是12，F4的那些高级一点才能自己选择分辨率哦。
最后，我让他把源码发给我了，我看了中断回调，看了函数处理，看了数据处理，都没问题，最后看到了，他没有校准ADC，这个我是早早的写了，我启动ADC就立刻校准了。
为什么要校准
我还记得高中和初中的时候，我还是物理科代表呢，但是做啥实验第一步都是清零校准，才能保证统一和实验性。放在我们现在的工作之中就是，使用万用表和示波器肯定要先校验才能保证数据和波形是正确的啊。所以，在处理传感器和adc，dac等方面都要注意校验的问题，不是说光初始init就能解决一切bug的。
那为什么会出现误差呢？
STM32 的 ADC 校准一般有 参考电压校准 和 增益校准。
参考电压校准：
先测量 ADC 参考电压的实际值，然后将该值与预设的参考电压进行比较，得到参考电压的偏差，最终通过校准将其校正的方式叫做 参考电压校准 ，其目的是为了准确测量 ADC 的输入信号。
叫做增益校准:
通过测量内部基准电压和 ADC 输入信号的幅值之间的比例关系，校准 ADC 增益的方式 叫做增益校准，其目的是确保 ADC 输出的数值与输入信号的幅值之间具有良好的线性关系，为了准确的转换 ADC 输入信号。
ADC 校准的目的是为了消除 ADC 的偏移误差和增益误差，从而提高测量精度。
原文链接：https://blog.csdn.net/weixin_42328389/article/details/129518720
这个就像芯片生产过程制造中的差异化一样，ADC部分也存在一些差异化（虽然很小），其参考电压、偏置电压、增益等参数可能存在一些不确定性和漂移，这些参数的变化会导致 ADC 的测量结果产生误差。
就想上面介绍什么是 ADC 校准最后说的，为了提高测量精度，消除 ADC 的偏移误差和增益误差，所以在使用 ADC 采样的时候都需要进行 ADC 校准。
只要不改变adc设置就不会变化哦，修改通道是没事的，前提是别改属性，也就是可以关闭，但是寄存器别动，下次继续使用是没问题的。如果工作环境一直发生变化，噪声环境比较恶劣，温度啊，干扰，那就得用一次校准一次了。
解决办法
就是启动ADC就立刻使用校准咯，这样就可以保证不同设备，或者同一个设备不同程序一样的adc啦。